PROJET À LA UNE
Plateforme d’inspection de wafers de précision pour la production à haut débit
SEMI-CONDUCTEURS
+35%
Précision d’inspection
-22%
Temps de cycle
24/7
Disponibilité du système
Mesures de projet illustratives ; les valeurs finales dépendent de l’application.
Un concept illustratif de plateforme d’inspection multiaxe axé sur le positionnement contrôlé, l’intégration du flux et la validation orientée production.





